电子探针

电子探针，即电子探针显微分析仪（Electron Probe Microanalyzer），是利用聚焦的高能电子束轰击固态样品表面、激发产生特征X射线和多种电子信号（例如，二次电子、背散射电子、阴极荧光、连续X射线），从而对样品进行微区原位的元素定性、定量分析以及形貌观察，是矿物学、岩石学、地球化学、矿床学、比较行星学和材料科学等研究领域最基础的原位微束微区分析仪器。

电子探针具有以下特点：分析区域可＜1 μm，检出限一般约100 ppm；分析元素范围广，可测从Be-U元素；方便快捷，一般只需几分钟，相比湿化学分析和XRF分析节省大量时间；分析方式多样，可进行点分析、线分析、面分析、形貌观察；分析对象广泛，可测各类固态样品。

实验室概况

JEOL JXA-8230电子探针实验室率属于中国科学院广州地球化学研究所和深地过程与战略矿产资源全国重点实验室。该型电子探针由日本电子（JEOL）公司制造，仪器配备钨灯丝电子枪、5道波谱仪、10个分光晶体和Oxford X-Max 20型能谱仪。二次电子图像分辨率为5 nm，40~300000倍的二次电子和背散射图像，电流束斑最小<1 μm，定量分析检出限一般~100 ppm，可分析从B-U之间的所有元素。可对固态样品进行形貌观察、微区主量元素组成及其分布的分析，对矿物进行高精度的面扫描分析，研究矿物生长过程中成分和结构的变化特征。结合能谱仪，可进行快速的定性和半定量分析。

主要的应用有：

1. 二次电子（SEI）和背散射（BSE）图像观察；
2. 常见造岩矿物（包括氧化物、硅酸盐和磷酸盐等）主量元素含量分析；
3. 金属硫化物主量元素含量分析；
4. 高温高压实验样品（硅酸盐、碳酸盐熔体和矿物）主量元素含量分析；
5. 稀土矿物成分分析；
6. 矿物精细面扫描分析；

仪器设备

JEOL JXA-8230型电子探针

开放措施

实验室面向所内外的研究人员和研究生开放。研究人员/仪器使用者需提前与实验室技术主管沟通样品情况和测试条件，确认样品是否适宜上机分析。经技术人员培训后，仪器使用者可上机进行测试分析，本实验室提供技术支持和服务保障。实验室原则上不提供代测试服务（合作研究除外）。

预约原则

本实验室实行预约制，所内人员请凭课题组账号登录中科院仪器设备共享管理平台（http://samp.cas.cn/）预约登记（电子探针-JEOL JXA-8230），所外人员请联系实验室管理人员代为登记；下载深地室8230-EPMA预约单，按要求填写并发送至yhcao@gig.ac.cn。原则上每人每次预约的时间不超过4天，每个课题组一个月内预约的时间不超过8天。

收费标准

1. 所外人员：一天（当日9:30am-次日8:30am），8000元/天。不足8小时：按小时收费，800元/小时；若需要代测试服务，按10000元/天计费，不足8小时按小时收费。
2. 所内人员：一天（当日9:30am-次日8:30am），6000元/天。不足8小时：按小时收费，600元/小时。

（2）单独镀碳：一批（12片）：200元/批，不足一批时，按一批收费。

其他事项

1. 制样要求

1. 固态样品，表面抛光，不含有机物和杂质气体，无磁
2. 环氧树脂靶制样时请抽真空，避免靶内气孔过多影响仪器真空度
3. 样品表面需要镀碳才能分析（实验室配备日本电子JEE-420真空镀碳仪和Leica ACE200镀膜机，可提供镀碳服务）
4. 暂不接收的样品（孔隙多的样品、超大尺寸样品、拼接的薄片等）

2. 测试条件（仅供参考）

（1）常见硅酸盐和氧化物的分析条件：“Major element compositions of minerals (clinopyroxene, magnetite, ilmenite, amphibole, and plagioclase) were determined by a JEOL JXA-8230 electron probe microanalyzer at the State Key Laboratory of Deep Earth Processes and Resources in Guangzhou Institute of Geochemistry, CAS, using an accelerating voltage of 15 kV, probe current of 20 nA, and electron beam diameter of 1 μm… …” （参见Cao et al., JGR-Solid Earth, 2019）

（2）矿物精细面扫描分析条件：“High resolution X-ray elemental intensity mapping for Mg, Fe, Al, Cr, Ni, Ca and P were applied for olivine grains on carbon-coated thin sections. The X-ray mapping was carried out using a JEOL JXA-8230 electron microprobe at the State Key Laboratory of Deep Earth Processes and Resources in Guangzhou Institute of Geochemistry (GIG), Chinese Academy of Sciences (CAS). The operation conditions of an accelerate voltage of 20 kV, a probe current of 300 nA and a beam size of 1 to 4 μm were adopted for mapping… …” （参见Xing et al., EPSL, 2017）

3. 仪器型号及实验室名称

JEOL JXA-8230 electron probe micro-analyzer (EPMA), State Key Laboratory of Deep Earth Processes and Resources, Guangzhou Institute of Geochemistry, Chinese Academy of Sciences (GIGCAS)

JEOL JXA-8230型电子探针，中国科学院广州地球化学研究所深地过程与战略矿产资源全国重点实验室

凡出自本实验室的数据发表的文章，请务必按照规范在分析方法中提及相应的仪器型号和实验室名称。

4. 其他

成果发表后请与实验室管理人员联系，以便于仪器的成果统计。对于成果产出较多的用户，本实验室将予以优先安排。

5. 实验室位置

广东省广州市天河区科华街511号中国科学院广州地球化学研究所标本楼112