纳米离子探针简介

　　纳米离子探针（NanoSIMS, Nano Secondary Ion Mass Spectrometry）是一款以极高空间分辨率为优势的高灵敏同位素组成和元素含量微区分析设备，得益于其优异的空间分辨率和二次离子图像分析能力，在地球与行星科学、生物细胞、材料科学、环境与古气候等领域得到了广泛应用。 

　　纳米离子探针通过将一次离子束（primary ion beam）垂直入射轰击样品表面激发二次离子（secondary ion beam），不同质荷比的二次离子通过质量分析器（magnetic sector mass filter）后被分开，根据信号强度大小可以选择使用法拉第杯（FC）或电子倍增器（EM）接收，获得单点离子信号强度（点分析，EM或FC）或二次离子图像（图像分析，EM），从而计算获得样品元素含量或同位素组成。

仪器介绍

CAMECA NanoSIMS 50L纳米离子探针关键技术指标：

1) 高空间分辨率：铯源和射频氧源均可实现低至50纳米的极限空间分辨率。

2) 高传输效率：质量分辨率6000时二次离子传输效率大于55%，质量分辨率9000时二次离子传输效率大于25%。

3) 大动态范围的多接收系统：可使用EM或FC同时采集七种不同质荷比的二次离子，所测元素最大质荷比与最小质荷比的比值可达22，如可同时测11B至质荷比为242（=11×22）之间的元素。

 用户须知

（1）用户需认真填写《中科院广州地化所纳米离子探针测试预约申请书》各项内容后提交实验室（nanosims@gig.ac.cn）审核。

（2）预约成功后，实验室安排进行样品制备并等待上级测试。

附件：《中科院广州地化所纳米离子探针分析测试预约申请书》

欢迎来访：

　　广东省广州市天河区科华街511号 中国科学院广州地球化学研究所 标本楼南侧负一层（下图红色五角星位置）

更新时间：2023年2月