主量元素分析实验室

X射线荧光光谱简介

　　X射线荧光光谱（XRF）分析是一种常规的、无污染和非破坏性分析技术。它是由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射特征荧光X射线也就是二次X射线，根据谱线的波长和强度对被测样品中元素进行定性和定量分析。X射线荧光光谱法也被称为X射线二次发射光谱法。

　　XRF分析技术常用于岩石、土壤、水系沉积物中37种主要、次要元素的固体、粉末样品的定性和定量分析。XRF分析具有以下特点：（1）分析元素范围广，可以测试Be-U之间的元素；（2）测定元素的含量范围宽，可以从10-6级到100%；（3）自动化程度高，分析速度快；（4）分析精度高，重现性好；（5）非破坏性分析，并且分析试样制备比较简便；（6）分析试样可以是固体、粉末、液体和晶体、非晶体等不同物理状态的物质。

仪器介绍

　　XRF实验室隶目前拥有日本理学X射线荧光光谱仪两台，型号分别为ZSX 100e和ZSX Primus IV。

　　XRF分析是一种常规的、无污染和非破坏性分析技术，常用于固体、粉末样品的定性和定量分析。该技术主要用于岩石、土壤、水系沉积物中37种主要、次要元素的分析。实验室面向国内外高校及科研院所等科研人员和研究生开放，可为地质与环境科学研究提供高质量的分析数据，同时可为冶金、矿业以及钢铁等行业的材料判别和定量分析提供高效服务。

　　主要应用于：1）岩石、土壤等样品定量分析；2）岩石、土壤等样品定性-半定量分析；3）矿物、玻璃等原位无损分析。

1. 日本理学ZSX 100e型X射线荧光光谱仪

生产商：日本株式会社理学（Rigaku），型号：ZSX Primus IV

　　ZSX 100e为2003年完成安装调试验收后投入使用，仪器配备4KW超薄端窗型铑靶X射线管，常用于固体、粉末等的定性和定量分析。其内置的无标样分析技术可对材料进行快速材质判别。该仪器稳定性好、有良好的线性范围（10-6-102），分析精确度好、准确度高，是十多年来科研人员主量元素测试的首选仪器。

  2. 日本理学ZSX Primus IV型X射线荧光光谱仪

生产商：日本株式会社理学（Rigaku），型号：ZSX Primus IV

　　ZSX Primus IV仪器为2019年11月完成安装，属于理学公司最新研制出的一款产品。仪器配备4KW（60kV-150mA）、端窗型Rh靶X射线管；分光晶体：LiF200、LiF220、PET、Ge、RX25；可分析F-U间元素：常量(%)-微量(ppm)；精密度（主、次量元素）RSD%：0.1-1.0；计数线性：闪烁计数器SC（Ti - U）为1800kcps，流气正比计数器F-PC（Be -Zn）为3000kcps；双真空室：可提高整体分析速度,保证光学系统洁净；APC功能：提高轻元素分析准确性。

　　配套设备：Analymate-V8C型4头高频加热熔样机，具多阶段升温功能，熔样速度快、效率高，每年可满足6000多个样品的制样需求。其余设备还包括40吨自动液压压片机、30KVA UPS电源、水冷机等。

实验室成员

王鑫玉，工程师，负责样品制备、XRF日常测试、维护及运行，并负责XRF实验技术开发及应用

　　电话：020-85292712          Email：wangxy@gig.ac.cn          办公室：同位素楼410室

收费标准：

　　实验室对所内外研究人员开放，在仪器状态稳定情况下，可实现一天24小时不间断测试分析。

　　上述收费标准自2020年1月1日起实行。

　　样品准备和注意事项

　　1. 拟分析样品粉末应小于200目。所测样品可以是岩石、土壤、沉积物等。

　　2. 熔片法适用于岩石、土壤等样品的主微量元素的定量分析；粉末压片法适用于粉末样品的定性-半定量分析。

　　3. 禁止采用熔片法熔融重金属矿化的样品（Pb、Cu、Zn>2000ppm, Cr、Ni>5000ppm）、高硫样品(S>2%)和磷酸岩样品。不确定含量者，请先做粉末压片进行半定量扫描。