电镜中心实验室

场发射高分辨率透射电子显微镜FEI Talos F200S
仪 器 型 号 :
放 置 地 点 :
仪器管理员:
场发射高分辨率透射电子显微镜FEI Talos F200S
联 系 电 话 :
基本参数:
总束电流:>150nA
探针电流:1nA@1nm探针(200 kV)
STEM HAADF ADF分辨率(nm) 0.16
TEM信息分辨率(nm) 0.12
TEM点分辨率(nm) 0.25
STEM放大范围 150x-230Mx
TEM放大范围 25x-1.50Mx
相机长度(mm) 12-5700
最大衍射角 24°
最大倾转角β ±30°
最大倾转角α ±90°
EDS系统:2 SDD无窗设计,shutter保护
能量分辨率:≤136 eV,对Mn-Kalpha和10kcps(输出)
快速EDS:像素驻留时间低至10 μs
除了这些基本特性外,本中心的Talos还装备:
1) Ceta 4K*4K 相机;
2)用于STEM模式的环形暗场探头(HAADF)以及ADF探头;
3) Gatan Continuum 1077 EELS
4) Fischione 2550冷冻传输三维重构样品杆,Densolution原位芯片加热样品杆、Chipnova三维重构样品杆、原厂单双倾样品杆;
5)电子断层扫描技术自动化数据收集软件SerialEM软件;
6)纳米束衍射(NBED);
可满足原位冷冻/加热矿物、材料等天然或合成样品、在TEM、STEM、SAED模式下实现常温/冷冻/加热三维电子断层扫描进行形貌、结构数据的收集、在STEM-EDS、STEM-EELS模式下实现常温/冷冻/加热电子断层扫描技术的化学成分与元素价态数据收集,如:
1)液氮温度的冷冻样品数据收集;
2)原位加热数据收集;
3)样品的形貌、结构和化学成分的三维重构;
4)小颗粒晶体(<20 nm)的电子衍射数据采集。
附件下载: