电镜中心实验室
场发射高分辨率透射电子显微镜FEI Talos F200S
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场发射高分辨率透射电子显微镜FEI Talos F200S
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基本参数:

总束电流:>150nA

探针电流:1nA@1nm探针(200 kV

STEM HAADF ADF分辨率(nm 0.16

TEM信息分辨率(nm 0.12

TEM点分辨率(nm 0.25

STEM放大范围  150x-230Mx

TEM放大范围    25x-1.50Mx

相机长度(mm)   12-5700

最大衍射角        24°

最大倾转角β      ±30°

最大倾转角α      ±90°

EDS系统:2 SDD无窗设计,shutter保护

能量分辨率:≤136 eV,对Mn-Kalpha10kcps(输出)

快速EDS:像素驻留时间低至10 μs

除了这些基本特性外,本中心的Talos还装备:

1) Ceta 4K*4K 相机;

2)用于STEM模式的环形暗场探头(HAADF)以及ADF探头;

3) Gatan Continuum 1077 EELS

4) Fischione 2550冷冻传输三维重构样品杆,Densolution原位芯片加热样品杆、Chipnova三维重构样品杆、原厂单双倾样品杆;

5)电子断层扫描技术自动化数据收集软件SerialEM软件;

6)纳米束衍射(NBED);

可满足原位冷冻/加热矿物、材料等天然或合成样品、在TEMSTEMSAED模式下实现常温/冷冻/加热三维电子断层扫描进行形貌、结构数据的收集、在STEM-EDSSTEM-EELS模式下实现常温/冷冻/加热电子断层扫描技术的化学成分与元素价态数据收集,如:

1)液氮温度的冷冻样品数据收集;

2)原位加热数据收集;

3)样品的形貌、结构和化学成分的三维重构;

4)小颗粒晶体(<20 nm)的电子衍射数据采集。



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